光学材料均匀性
光学元件的一个重要特性是制造光学元件的材料折射率的变化，广义上称为同质性。材料的不均匀性会导致玻璃折射率的变化，这种变化可以是尖锐的绳状区域，称为条纹，也可以是折射率在样品中更大区域的梯度。材料指标的变化必须经过认证，以确保其影响在材料使用的特定光学设计的允许范围内。
ZYGO激光干涉仪必威中文网站产品提供了一系列的能力，以确定光学材料的同质性以及内置分析在我们的综合Mx数据采集和分析软件．
Verifire MST-多重表面测试干涉仪非常适合通过同时测量窗口的透射波前和去除表面变形的影响(实现精确的材料测量所需)来检测平面平行窗口的材料均匀性。MST测量的同时性降低了最精确结果的测量不确定度，并保持了均匀性的重要线性成分，信息丢失与其他计量方法。