总厚度变化(TTV)

用于测量的薄玻璃盘必威中文网站我们每天使用的产品,以及那些正在为未来开发的产品,创造了对精密并行光学的需求,如晶圆、显示玻璃、磁盘驱动器、标准件和波导。这些类型的光学元件的厚度变化,称为总厚度变化或TTV,对于精确地鉴定和控制至关重要。TTV定义了平行窗或同心球面光学厚度的最大物理变化,但可以通过光学测量。光学测量能够以高横向采样率和极小的垂直分辨率测量大面积。

Verifire MST适用于需要精确控制厚度变化的组件的TTV -同时获取每个表面的数据,确保在厚度测量中保持表面到表面的信息。其他光学测量方法需要对每个表面进行多次单独测量,导致厚度变化的测量误差。

必需的条目
__ 美国和加拿大需要
注意:
如果您在提交此表格时遇到任何困难,请联系:webmaster@zygo.com

**您可以随时使用本网站任何页面底部的“退订”链接撤销此同意。
Baidu
map