波阵面传播

透射波前误差(TWE)是用来衡量光学元件在光通过时的性能。

与表面形状测量不同，透射波前测量包括来自前表面和后表面的误差、楔形和材料的均匀性。这一整体性能指标提供了一个更好的理解光学的现实世界的性能。

虽然许多光学元件都是根据表面形状或TWE规格单独测试的，但这些元件不可避免地被构建成具有自身性能要求的更复杂的光学组件。在某些应用中，依靠组件测量和公差来预测最终性能是可以接受的，但对于要求更高的应用，重要的是测量组装时的性能。

TWE测量用于确认光学系统是否符合规格并按预期运行。此外，TWE测量可用于主动对齐系统，减少装配时间，同时确保实现预期性能。

光学系统的实时光学对准

ZYGO的专利DynaPhase®数据采集技术(适用于当前所有型号的ZYGO干涉仪)可以实时光学对准和测量光学系统的时间变化，所有这些都具有行业领先的精度。

观看随附的视频以获得简短的演示。

使用ZYGO干涉仪测量透射波前误差是简单可靠的。