增材制造部件

加法制造(AM)是一种相对较新的和不断发展的技术，它是补充更传统的，减法方法，如机械加工。AM的主要优势是，它允许制造复杂的几何图形，并创建内部特征，不能轻易使用减法生产。然而，AM的一个主要缺点是减少了对表面质量和尺寸公差的控制。

目前，对表征AM可以产生的广泛表面的表面形貌和纹理的需求越来越大。随着工业和技术的进步，制造商需要精确测量各种表面、材料和部件几何形状上的表面形状、纹理和几何特征。

对于许多光学测量技术来说，对AM制造的表面和零件进行精确的表面形貌测量是一项具有挑战性的任务。ZYGO的3D光学轮廓仪基于创新的相干扫描干涉测量法(CSI)，可以精确快速地测量高斜坡或低反射率的表面特征(基于专利MoreData™技术)，使其成为AM零件工艺开发和质量控制的宝贵工具。

综上所述，ZYGO CSI技术在AM零件表面测量方面具有显著优势:

• •高数据密度和高速度(每次测量数秒)
• 亚纳米高度精度在所有放大
• 高动态范围(HDR)和低信噪比(SNR)
• 高坡、粗糙/低反射率表面的数据捕获
• •增强的表面形貌可视化，真正的彩色成像